CEMS analysis of phase formation in nanostructured films (Fe/Si) 3 : научное издание

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2011

Идентификатор DOI: 10.4028/www.scientific.net/SSP.168-169.277

Ключевые слова: Interfaces metal/semiconductor, Magnetic silicides, Molecular beam epitaxy technology, semiconductor and magnetic geterostructures

Аннотация: Determination of stable phases formed at the Fe/Si interface in (Fe/Si)n structure, grown by thermal evaporation in an ultrahigh vacuum system was performed using conversion electron Mossbauer spectroscopy (CEMS).

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Solid State Phenomena

Выпуск журнала: Т. 168-169

Номера страниц: 277-280

ISSN журнала: 16629779

Издатель: Trans Tech Publications Ltd

Авторы

  • Varnakov S.N. (Siberian Aerospace University)
  • Ovchinnikov S.G. (Siberian Aerospace University)
  • Bondarenko G.V. (Kirensky Institute of Physics,Siberian Division,Russian Academy of Sciences)
  • Bartolome J. (Instituto de Ciencia de Materiales de Aragon,Departamento de Fisica de la Materia Condensada,CSIC-Universidad de Zaragoza)
  • Badia L. (Instituto de Ciencia de Materiales de Aragon,Departamento de Fisica de la Materia Condensada,CSIC-Universidad de Zaragoza)
  • Rubin J. (Instituto de Ciencia de Materiales de Aragon,Departamento de Ciencia de Materiales e Ingenieria Metalurgica,CSIC-Universidad de Zaragoza)

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.