Characterization of the electrical properties of semimetallic Bi films by electrical field effect

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 1997

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Journal of Applied Physics

Выпуск журнала: Т.82, 3

Номера страниц: 1266-1273

ISSN журнала: 00218979

Издатель: American Institute of Physics

Авторы

  • Butenko A.V. (Jack Pearl Resnik Inst. Adv. T.,Department of Physics,Bar-Ilan University)
  • Sandomirsky V. (Jack Pearl Resnik Inst. Adv. T.,Department of Physics,Bar-Ilan University)
  • Schlesinger Y. (Jack Pearl Resnik Inst. Adv. T.,Department of Physics,Bar-Ilan University)
  • Shvarts D. (Jack Pearl Resnik Inst. Adv. T.,Department of Physics,Bar-Ilan University)
  • Sokol V.A. (Belarusian State Univ. Info. R.)

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.