Features of large-scale thin foils fabrication for transmission electron microscopy by focused ion beam : доклад, тезисы доклада

Тип публикации: доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций

Конференция: International Scientific Conference on Reshetnev Readings 2018; Krasnoyarsk; Krasnoyarsk

Год издания: 2020

Идентификатор DOI: 10.1088/1757-899X/822/1/012028

Журнал: IOP Conference Series: Materials Science and Engineering

Выпуск журнала: 822

Номера страниц: 012028

Издатель: Institute of Physics Publishing

Volochaev M.N. (Kirensky Institute of Physics,Federal Research Center KSC,Siberian Branch,Russian Academy of Sciences)
Balashov Y.Y. (Kirensky Institute of Physics,Federal Research Center KSC,Siberian Branch,Russian Academy of Sciences)
Shcheglova M.S. (Reshetnev Siberian State University of Science and Technology)
Loginov Y.Y. (Reshetnev Siberian State University of Science and Technology)

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.