Программа управления автоматизированным комплексом, предназначенным для измерения магнитных характеристик металлических тонкопленочных образцов, применяемых в датчиках слабых магнитных полей : регистрация программы для ЭВМ | Научно-инновационный портал СФУ

Программа управления автоматизированным комплексом, предназначенным для измерения магнитных характеристик металлических тонкопленочных образцов, применяемых в датчиках слабых магнитных полей : регистрация программы для ЭВМ

Тип публикации: патент

Год издания: 2019

Аннотация: Программа предназначена для управления автоматизированным комплексом при проведении измерений значений коэффициента отражения от короткозамкнутой микрополосковой линии с металлическим тонкопленочным образцом, являющимся чувствительным элементом датчиков слабых магнитных полей. Входными данными программы являются введенные пользователем значения границ диапазона развертки по величине и углу постоянного магнитного поля, а также уровень мощности и частота поля возбуждения. Программа осуществляет запись в текстовый или бинарный файл зависимостей значений коэффициента отражения S11, управления процессом измерения и отображения результатов в реальном времени. Область применения программы: измерение магнитных характеристик металлических тонкопленочных образцов, применяемых в датчиках слабых магнитных полей.

Ссылки на полный текст

Персоны

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.