Методы современной просвечивающей электронной микроскопии в исследовании материалов

Перевод названия: Methods of Modern Transmission Electron Microscopy in Material Study

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2009

Ключевые слова: transmission electron microscopy, electron diffraction, X-ray spectrum analysis, просвечивающая электронная микроскопия, дифракция электронов, рентгеноспектральный анализ

Аннотация: На примере различных материалов: тонких пленок Al/Au, наночастиц Pd-Au, углеродных нанотрубок, фотонного кристалла показаны возможности современной просвечивающей электронной микроскопии в исследовании микроструктуры. Продемонстрировано применение методов высокоразрешающей и аналитической просвечивающей электронной микроскопии, а также дифракции электронов.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Журнал Сибирского федерального университета. Серия: Химия

Выпуск журнала: Т.2, 4

Номера страниц: 294-306

ISSN журнала: 19982836

Место издания: Красноярск

Издатель: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования Сибирский федеральный университет

Авторы

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.