Научные основы применения нейросетевых технологий в задачах технических измерений и диагностики

Тип публикации: доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций

Конференция: Международная конференция и Российская научнаяой школа "Системные проблемы качества, математического моделирования, информационных, электронных и лазерных технологий"; Москва-Воронеж-Сочи; Москва-Воронеж-Сочи

Год издания: 2001

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Системные проблемы качества, математического моделирования, информационных, электронных и лазерных технологий

Выпуск журнала: Часть 6

Номера страниц: 23-28

Издатель: Воронежский государственный технический университет

Авторы

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.