Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2011
Идентификатор DOI: 10.4028/www.scientific.net/SSP.168-169.277
Ключевые слова: Interfaces metal/semiconductor, Magnetic silicides, Molecular beam epitaxy technology, semiconductor and magnetic geterostructures
Аннотация: Determination of stable phases formed at the Fe/Si interface in (Fe/Si)n structure, grown by thermal evaporation in an ultrahigh vacuum system was performed using conversion electron Mossbauer spectroscopy (CEMS).
Издание
Журнал: Solid State Phenomena
Выпуск журнала: Т. 168-169
Номера страниц: 277-280
ISSN журнала: 16629779
Издатель: Trans Tech Publications Ltd
Персоны
- Varnakov S.N. (Siberian Aerospace University)
- Ovchinnikov S.G. (Siberian Aerospace University)
- Bondarenko G.V. (Kirensky Institute of Physics,Siberian Division,Russian Academy of Sciences)
- Bartolome J. (Instituto de Ciencia de Materiales de Aragon,Departamento de Fisica de la Materia Condensada,CSIC-Universidad de Zaragoza)
- Badia L. (Instituto de Ciencia de Materiales de Aragon,Departamento de Fisica de la Materia Condensada,CSIC-Universidad de Zaragoza)
- Rubin J. (Instituto de Ciencia de Materiales de Aragon,Departamento de Ciencia de Materiales e Ingenieria Metalurgica,CSIC-Universidad de Zaragoza)
Вхождение в базы данных
Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.