DEPENDENCE OF DIFFUSION-LAYER THICKNESS ON CURRENT-DENSITY

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 1985

Журнал: SOVIET ELECTROCHEMISTRY

Выпуск журнала: Vol. 21, Is. 6

Номера страниц: 802

ISSN журнала: 00385387

Место издания: NEW YORK

Издатель: PLENUM PUBL CORP

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.