Сибирский федеральный университет

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2024

Идентификатор DOI: 10.61011/JTF.2024.02.57083.218-23

Ключевые слова: photonic crystal, aluminum oxide, porous material, photonic band gap, anodizing, Effective refractive index, фотонный кристалл, оксид алюминия, пористый материал, фотонная запрещенная зона, анодирование, эффективный показатель преломления

Аннотация: Методом анодирования алюминиевой фольги изготовлены образцы фотонных кристаллов с различным количеством периодов структуры. Используя угловую зависимость спектров пропускания, данные просвечивающей электронной микроскопии и численное моделирование, определены показатели преломления слоев фотонных кристаллов. Определена структура образцов, толщина слоев и их пористость. Теория эффективной среды в приближениях Бруггемана, Максвелл-Гарнетта, Монека, Ландау-Лившица/Луенга, Лоренца-Лоренца, дель Рио-Циммермана-Дайва, а также комплексного показателя преломления применена для определения показателей преломления слоев. Все приближения показали близкие значения, что говорит о возможности их использования для описания гетерогенных диэлектрических сред. Samples of photonic crystals with a different number of structure periods were fabricated by the method of anodizing aluminum foil. Using the angular dependence of transmission spectra, transmission electron microscopy data and numerical simulation, the refractive indices of photonic crystal layers are determined. The structure of the samples, the thickness of the layers and their porosity were determined. The theory of the effective medium in the approximations of Bruggemann, Maxwell Garnett, Monecke, Landau - Lifshitz / Looyenga, Lorentz-Lorentz, del Rio - Zimmerman - Dawe, as well as the complex refractive index is applied to determine the refractive indices of the layers. All approximations showed similar values, which indicates the possibility of using them to describe heterogeneous dielectric media.

Журнал: Журнал технической физики

Выпуск журнала: Т.94, №2

Номера страниц: 278-283

ISSN журнала: 00444642

Место издания: Санкт-Петербург

Издатель: Российская академия наук, Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН

• Пятнов М.В. (Институт физики им. Л.В. Киренского КНЦ СО РАН)
• Соколов М.М. (Сибирский федеральный университет)
• Киселев И.А. (Сибирский федеральный университет)
• Бикбаев Р.Г. (Институт физики им. Л.В. Киренского КНЦ СО РАН)
• Панкин П.С. (Институт физики им. Л.В. Киренского КНЦ СО РАН)
• Волкова И.Р. (Федеральный исследовательский центр Красноярский научный центр СO РАН)
• Гуняков В.А. (Институт физики им. Л.В. Киренского КНЦ СО РАН)
• Волочаев М.Н. (Институт физики им. Л.В. Киренского КНЦ СО РАН)
• Рыжков И.И. (Институт вычислительного моделирования СО РАН)
• Ветров С.Я. (Институт физики им. Л.В. Киренского КНЦ СО РАН)
• Тимофеев И.В. (Институт физики им. Л.В. Киренского КНЦ СО РАН)
• Шабанов В.Ф. (Федеральный исследовательский центр Красноярский научный центр СO РАН)

• Ядро РИНЦ (eLIBRARY.RU)
• Список ВАК