Тип публикации: доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций
Конференция: INTERNATIONAL SIBERIAN CONFERENCE ON CONTROL AND COMMUNICATIONS; Astana, KAZAKHSTAN; Astana, KAZAKHSTAN
Год издания: 2017
Ключевые слова: Automated test equipment, intelligent devices, testing of complex multiparametric devices, ATE, HTE
Аннотация: This paper describes the structure and principles of automatic equipment for testing of complex multiparametric intelligent devices.
Издание
Журнал: 2017 INTERNATIONAL SIBERIAN CONFERENCE ON CONTROL AND COMMUNICATIONS (SIBCON) PROCEEDINGS
ISSN журнала: 23806508
Место издания: NEW YORK
Издатель: IEEE
Персоны
- Gorchakovsky A. (Siberian Fed Univ, Inst Engn Phys & Radio Elect, Krasnoyarsk, Russia)
- Evstratko V. (Siberian Fed Univ, Inst Engn Phys & Radio Elect, Krasnoyarsk, Russia)
- Kamyshnikov A. (Siberian Fed Univ, Inst Engn Phys & Radio Elect, Krasnoyarsk, Russia)
- Kamyshnikova A. (Siberian Fed Univ, Inst Engn Phys & Radio Elect, Krasnoyarsk, Russia)
- Mishurov A. (Siberian Fed Univ, Inst Engn Phys & Radio Elect, Krasnoyarsk, Russia)
- Panko S. (Siberian Fed Univ, Mil Engn Inst, Krasnoyarsk, Russia)
- Sukhotin V. (Siberian Fed Univ, Mil Engn Inst, Krasnoyarsk, Russia)
Вхождение в базы данных
Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.