Перевод названия: Thermoelectric Quality Factor in Low-Dimensional Semiconductor Medium
Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2013
Ключевые слова: gallium arsenide, silicon, thermoelectricity, seebeck coefficient, low-dimensional medium, термоэлектричество, коэффициент Зеебека, низкоразмерные среды
Аннотация: В работе исследованы термоэлектрические характеристики полупроводниковых систем, которые могут быть использованы для создания термоэлектрических преобразователей. Экспериментально изучены и рассчитаны коэффициенты Зеебека и добротность в системах «полупроводник–пористый полупроводник». Показано, что электрохимическая обработка полупроводников вызывает изменение структуры и энергетических характеристик материалов, что приводит к многократному увеличению коэффициента Зеебека и, соответственно, добротности термоэлектрических систем. Thermoelectric characteristics of semiconductor systems that can be used to build thermoelectric converters were investigated. The Seebeck coefficient and the quality factor in the systems “ porous semiconductor – semiconductor” were experimentally studied and calculated. It have been shown that the electrochemical treatment of semiconductors causes the changes in the structure and energy characteristics of the materials leading to a multiple increase of the Seebeck coefficient and quality factor of thermoelectric systems.
Издание
Журнал: Журнал Сибирского федерального университета. Серия: Техника и технологии
Выпуск журнала: Т. 6, № 6
Номера страниц: 657-664
ISSN журнала: 1999494X
Место издания: Красноярск
Издатель: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования Сибирский федеральный университет
Персоны
- Патрушева Т.Н. (Сибирский федеральный университет)
- Подорожняк С.А. (Сибирский федеральный университет)
- Шелованова Г.Н. (Сибирский федеральный университет)
Вхождение в базы данных
- Ядро РИНЦ (eLIBRARY.RU)
- Список ВАК
Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.