Features of large-scale thin foils fabrication for transmission electron microscopy by focused ion beam : доклад, тезисы доклада | Научно-инновационный портал СФУ

Features of large-scale thin foils fabrication for transmission electron microscopy by focused ion beam : доклад, тезисы доклада

Тип публикации: доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций

Конференция: 22nd International Scientific Conference on Reshetnev Readings 2018; Krasnoyarsk; Krasnoyarsk

Год издания: 2020

Идентификатор DOI: 10.1088/1757-899X/822/1/012028

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: IOP Conference Series: Materials Science and Engineering

Выпуск журнала: 822

Номера страниц: 012028

Издатель: Institute of Physics Publishing

Авторы

  • Volochaev M.N. (Kirensky Institute of Physics,Federal Research Center KSC,Siberian Branch,Russian Academy of Sciences)
  • Balashov Y.Y. (Kirensky Institute of Physics,Federal Research Center KSC,Siberian Branch,Russian Academy of Sciences)
  • Shcheglova M.S. (Reshetnev Siberian State University of Science and Technology)
  • Loginov Y.Y. (Reshetnev Siberian State University of Science and Technology)

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.