Устройство для измерения пробивного напряжения полупроводниковых материалов : авторское свидетельство | Научно-инновационный портал СФУ

Устройство для измерения пробивного напряжения полупроводниковых материалов : авторское свидетельство

Перевод названия: DEVICE FOR MEASURING SEMICONDUCTOR MATERIAL BREAKDOWN VOLTAGE

Тип публикации: патент

Год издания: 1982

Аннотация:

<img src="/get_item_image.asp?id=40300981&img=00000001.TIF" class="img_big">

Ссылки на полный текст

Персоны

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Версия для слабовидящих

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.