Особенности двухмагнонных процессов релаксации в нанокристаллических тонких магнитных пленках : научное издание | Научно-инновационный портал СФУ

Особенности двухмагнонных процессов релаксации в нанокристаллических тонких магнитных пленках : научное издание

Перевод названия: Special features of two-magnon relaxation processes in nanocrystal magnetic thin films

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2018

Ключевые слова: микромагнитное моделирование, нанокристаллиты, случайная магнитная анизотропия, ферромагнитный резонанс, сверхвысокие частоты, двухмагнонный процесс релаксации, Micromagnetic modeling, Nanocrystallites, Random magnetic anisotropy, ferromagnetic resonance, ultrahigh frequencies, two-magnon relaxation process

Аннотация: Численным анализом микромагнитной модели обнаружена «резонансная» особенность процессов релаксации в нанокристаллических тонких магнитных пленках. Особенность проявляется в виде резкого уширения линии ферромагнитного резонанса (ФМР) на определенной частоте f 1, зависящей от магнитных характеристик пленки, и она наблюдается только в пленках, толщина которых превышает некоторое пороговое значение d min. Резкое уширение линии ФМР сопровождается значительным смещением резонансного поля, причем величина смещения меняет знак на частоте ~ f 1. Аналитически показано, что природа наблюдаемых эффектов связана с двухмагнонным процессом рассеяния спиновых волн на квазипериодической магнитной микроструктуре - «ряби» намагниченности. Полученные выражения для порогового значения толщины пленки d min и частоты максимального уширения линии ФМР f 1 хорошо согласуются с результатами численного расчета микромагнитной модели. A resonant feature of the relaxation processes in nanocrystal magnetic thin films is revealed by numerical analysis for a micromagnetic model. This special feature is manifested through sharp broadening of the ferromagnetic resonance (FMR) line at the frequency f 1 depending on the magnetic characteristics of the film and is observed only in the films whose thickness exceeds a certain threshold value d min. The sharp broadening of the FMR lines is accompanied by a considerable displacement of the resonant field, and the displacement changes its sign at the frequency ~ f 1. It is analytically shown that the nature of the observable effects is connected with the two-magnon process of spin wave scattering on a quasi-periodic magnetic microstructure - magnetization ripples. The obtained expressions for the threshold value of the film thickness d min and the frequency f 1 of the maximal FMR line broadening are in good agreement with results of numerical calculation for the micromagnetic model.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Известия высших учебных заведений. Физика

Выпуск журнала: Т. 61, 12

Номера страниц: 153-159

ISSN журнала: 00213411

Место издания: Томск

Издатель: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Томский государственный университет"

Авторы

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.