Исследование динамики решетки кристалла LaF3 методами КР спектроскопии и функционала плотности (DFT) : доклад, тезисы доклада | Научно-инновационный портал СФУ

Исследование динамики решетки кристалла LaF3 методами КР спектроскопии и функционала плотности (DFT) : доклад, тезисы доклада

Тип публикации: доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций

Конференция: XXI Всероссийская конференция по физике сегнетоэлектриков (ВКС – XXI); Казань; Казань

Год издания: 2017

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: XXI Всероссийская конференция по физике сегнетоэлектриков (ВКС – XXI)

Номера страниц: 114-114

Издатель: Казанский (Приволжский) федеральный университет

Персоны

  • Ершов А.А. (Сибирский федеральный университет)
  • Крылов А.С. (Сибирский федеральный университет)
  • Орешонков А.С. (Сибирский федеральный университет)
  • Воронов В.Н. (Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН - обособленное подразделение ФИЦ "Красноярский научный центр СО РАН")
  • Втюрин А.Н. (Сибирский федеральный университет)

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.