Two-level genetic algorithm for a full-profile fitting of X-ray powder patterns | Научно-инновационный портал СФУ

Two-level genetic algorithm for a full-profile fitting of X-ray powder patterns

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2009

Идентификатор DOI: 10.1524/zksu.2009.0003

Ключевые слова: genetic algorithm, global optimisation, structure solution, full-profile fitting

Аннотация: A new approach for automated crystal structure solution and refinement from powder diffraction data based on two-level Genetic Algorithm combined with Rietveld-like DDM method is reported. Application of this method is demonstrated on two samples with previously known crystal structures, and the performance is discussed.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: ZEITSCHRIFT FUR KRISTALLOGRAPHIE

Выпуск журнала: Part1

Номера страниц: 21-26

ISSN журнала: 00442968

Место издания: MUNICH

Издатель: OLDENBOURG VERLAG

Авторы

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.