Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2014
Аннотация: Методом спектральной эллипсометрии измерена дисперсия диэлектрической проницаемости ? эпитаксиальной пленки силицида железа Fe 3Si толщиной 27 нм в области энергий E = (1.16?4.96) эВ. Результаты сравниваются с дисперсией диэлектрической проницаемости, вычисленной в рамках метода функционала плотности с аппроксимацией GGA-PBE. Рассчитаны электронная структура Fe 3Si и плотность электронных состояний (DOS). Анализ частот теоретически рассчитанных оптических переходов между пиками DOS дает качественное согласие с экспериментально измеренными пиками поглощения. Анализ данных одноволновой лазерной эллипсометрии, полученных в процессе синтеза пленки, показывает, что формирование сплошного слоя пленки силицида железа Fe 3Si происходит при достижении ее толщиной в 5 нм.
Издание
Журнал: Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики
Выпуск журнала: Т. 99, № 9-10
Номера страниц: 651-655
ISSN журнала: 0370274X
Место издания: Москва
Издатель: Федеральное государственное унитарное предприятие Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Наука
Персоны
- Тарасов И.А. (Сибирский государственный аэрокосмический университет им. Решетнева)
- Попов З.И. (Сибирский государственный аэрокосмический университет им. Решетнева)
- Варнаков С.Н. (Сибирский государственный аэрокосмический университет им. Решетнева)
- Молокеев М.С. (Институт физики им. Киренского СО РАН)
- Федоров А.С. (Институт физики им. Киренского СО РАН)
- Яковлев И.А. (Институт физики им. Киренского СО РАН)
- Федоров Д.А. (Институт физики им. Киренского СО РАН)
- Овчинников С.Г. (Сибирский государственный аэрокосмический университет им. Решетнева)
Вхождение в базы данных
- Ядро РИНЦ (eLIBRARY.RU)
- Список ВАК
Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.