Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2014
Аннотация: Представлены результаты исследования структурных и магнитных свойств наноструктур (Fe/Si) N, полученных при последовательном напылении на поверхность SiO 2/Si(100) при температуре подложки 300 K. Измерения методом просвечивающей электронной микроскопии позволили определить толщины всех слоев Fe и Si. Магнитные свойства исследованы методом рентгеновского магнитного кругового дихроизма (XMCD) вблизи L 3, 2 -краев поглощения Fe. Разделены орбитальный (m l ) и спиновый (m S ) вклады в полный магнитный момент железа. С использованием поверхностной чувствительности метода XMCD и модели интерфейса из немагнитной и ослабленной магнитной фаз, определены толщины магнитного и немагнитного силицида Fe на интерфейсах Si/Fe и Fe/Si.
Издание
Журнал: Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики
Выпуск журнала: Т. 99, № 11-12
Номера страниц: 817-823
ISSN журнала: 0370274X
Место издания: Москва
Издатель: Федеральное государственное унитарное предприятие "Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука"
Персоны
- Платунов М.С. (Сибирский государственный аэрокосмический университет им. Решетнева)
- Варнаков С.Н. (Сибирский государственный аэрокосмический университет им. Решетнева)
- Жарков С.М. (Сибирский федеральный университет)
- Бондаренко Г.В. (Институт физики им. Киренского СО РАН)
- Вешке О. (BESSY II, Helmholtz-Zentrum Berlin)
- Шиерле Э. (BESSY II, Helmholtz-Zentrum Berlin)
- Овчинников С.Г. (Сибирский государственный аэрокосмический университет им. Решетнева)
Вхождение в базы данных
- Ядро РИНЦ (eLIBRARY.RU)
- Список ВАК
Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.