Effect of interface traps on Debye thickness semiconductor films : научное издание | Научно-инновационный портал СФУ

Effect of interface traps on Debye thickness semiconductor films : научное издание

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2006

Идентификатор DOI: 10.1016/j.apsusc.2005.07.039

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Applied Surface Science

Выпуск журнала: Т. 252, № 16

Номера страниц: 5793-5802

ISSN журнала: 01694332

Издатель: Elsevier Science Publishing Company, Inc.

Персоны

  • Sandomirsky V. (Bar-Ilan University,Department of Physics)
  • Butenko A.V. (Bar-Ilan University,Department of Physics)
  • Kolobov I.G. (Bar-Ilan University,Department of Physics)
  • Ronen A. (Bar-Ilan University,Department of Physics)
  • Schlesinger Y. (Bar-Ilan University,Department of Physics)

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Версия для слабовидящих

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.