Non-equilibrium critical behavior of Heisenberg thin films | Научно-инновационный портал СФУ

Non-equilibrium critical behavior of Heisenberg thin films

Тип публикации: доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций

Конференция: Moscow International Symposium on Magnetism (MISM); Lomonosov Moscow State Univ, Fac Phys, Moscow, RUSSIA; Lomonosov Moscow State Univ, Fac Phys, Moscow, RUSSIA

Год издания: 2018

Идентификатор DOI: 10.1051/epjconf/201818511005

Аннотация: In this work we study the non-equilibrium properties of Heisenberg ferromagnetic films using Monte Carlo simulations by short-time dynamic method. By exploring the short-time scaling dynamics, we have found thickness dependency of critical exponents z, θ′ and β/v for ferromagnetic thin film. For calculating the critical exponents of ferromagnetic films we considered systems with linear size L = 128 and layers number N = 2; 4; 6; 10. Starting from initial configurations, the system was updated with Metropolis algorithm at the critical temperatures. © 2018 The Authors, published by EDP Sciences.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: EPJ Web of Conferences

Выпуск журнала: Vol. 185

Номера страниц: 11005

Издатель: 2017 Moscow International Symposium on Magnetism, MISM 2017

Авторы

  • Shlyakhtich Maria A. (Siberian Fed Univ, 79 Svobodny Ave, Krasnoyarsk 660041, Russia; Omsk State Univ, Mira Prospekt 55-A, Omsk 644077, Russia)
  • Prudnikov Pavel V. (Omsk State Univ, Mira Prospekt 55-A, Omsk 644077, Russia)

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.