Сибирский федеральный университет

Перевод названия: Application of Scanning Electron Microscopy in Material Science

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2009

Ключевые слова: scanning electron microscopy, microstructure, x-ray microanalysis, сканирующая электронная микроскопия, микроструктура, микрорентгеноспектральный анализ

Аннотация: Рассмотрены вопросы практического применения сканирующей электронной микроскопии и микрорентгеноспектрального анализа для исследования материалов. Показаны возможности сканирующего электронного микроскопа JSM 7001F фирмы JEOL (Япония) с системой микроанализаторов фирмы Oxford Instruments (Великобритания) на примере диффузионных соединений разнородных материалов, серебряных электроконтактов и сплава на основе алюминия. Some aspects of application of scanning electron microscopy and X-ray microanalysis to study materials were considered. Capabilities of JSM 7001F scanning electron microscope of JEOL Company with a set of Oxford Instruments (UK) microanalyzers were demonstrated using diffusive compositions of heterogeneous compounds, silver electrical contacts as well as an aluminum alloy.

Журнал: Журнал Сибирского федерального университета. Серия: Химия

Выпуск журнала: Т. 2, № 4

Номера страниц: 287-293

ISSN журнала: 19982836

Место издания: Красноярск

Издатель: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования Сибирский федеральный университет

• Зеер Г.М. (Сибирский федеральный университет)
• Фоменко О.Ю. (Сибирский федеральный университет)
• Ледяева О.Н. (Сибирский федеральный университет)

• Ядро РИНЦ (eLIBRARY.RU) (цитирований 10)
• Список ВАК