Новые возможности количественного анализа в спектроскопии потерь энергии отраженных электронов структур Fe/Si : научное издание | Научно-инновационный портал СФУ

Новые возможности количественного анализа в спектроскопии потерь энергии отраженных электронов структур Fe/Si : научное издание

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2011

Аннотация: На примере слоистых структур железа на кремниевых подложках показана возможность определения элементного состава, химического состояния и распределения элементов по толщине приповерхностной области из результатов компьютерного моделирования сечения неупругого рассеяния электронов в рамках диэлектрической теории и экспериментального определения произведения средней длины неупругого пробега на сечение неупругого рассеяния электронов по потерям энергии из спектров потерь энергии отраженных электронов.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Журнал технической физики

Выпуск журнала: Т. 81, 5

Номера страниц: 69-74

ISSN журнала: 00444642

Место издания: Санкт-Петербург

Издатель: Федеральное государственное унитарное предприятие Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Наука

Персоны

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.