Low-temperature electrical properties of MexV1-xS | Научно-инновационный портал СФУ

Low-temperature electrical properties of MexV1-xS

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 1996

Аннотация: The electrical and structural properties of MexV1-xS (Me=Ti, Cr, Mn) solid solutions with x?0.1 are studied experimentally over 77-1300 K. Metal-dielectric transitions are observed for all these sulfides in the neighborhood of the reversible high-temperature endoeffect (Tc?800-900 K). At low temperatures (T300 K) these solid solutions have a minimum resistance at a temperature Tmin?150-260 K which depends on the composition of the sulfide and its thermal processing. © 1996 American Institute of Physics.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Physics of the Solid State

Выпуск журнала: Vol. 38, Is. 4

Номера страниц: 562-564

Авторы

  • Petrakovskii G.A. (Krasnoyarsk State University)
  • Mukoed G.M. (Krasnoyarsk State University)
  • Loseva G.V. (L. V. Kirenskii Phys. Inst.,Siberian Branch,Russian Academy of Sciences)
  • Kiselev N.I. (L. V. Kirenskii Phys. Inst.,Siberian Branch,Russian Academy of Sciences)
  • Baranov A.V. (Institute of Mining)

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.