АНАЛИЗ МАГНИТНОГО ВКЛАДА В КОЭФФИЦИЕНТЫ ФРЕНЕЛЯ ПРИ МАГНИТОЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЯХ | Научно-инновационный портал СФУ

АНАЛИЗ МАГНИТНОГО ВКЛАДА В КОЭФФИЦИЕНТЫ ФРЕНЕЛЯ ПРИ МАГНИТОЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЯХ

Перевод названия: MAGNETIC CONTRIBUTION TO FRESNEL COEFFICIENTS AT MAGNETOELLIPSOMETRIC INVESTIGATION

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2013

Ключевые слова: магнитоэллипсометрия, Magneto-optical ellipsometry, Ellipsometric characterization, Magneto-optical Kerr effect, thin films, эллипсометрические измерения, магнитооптический эффект Керра, тонкие пленки

Аннотация: Показаны особенности интерпретации эллипсометрических данных от ферромагнитных образцов при воздействии внешнего магнитного поля. Представлены аналитические выражения для коэффициентов Френеля с учетом магнитооптического параметра, входящего в недиагональные члены тензора диэлектрической проницаемости. Рассмотрены различные модели отражающих оптических систем при наличии магнитного поля в конфигурации магнитооптического экваториального эффекта Керра: модель однородной полубесконечной среды, однослойная модель, многослойная модель. Данные модели позволяют интерпретировать экспериментальные данные при эллипсометрических и магнитоэллипсометрических исследованиях слоистых магнитных наноструктур. Получена связь эллипсометрических параметров ? и ? с пропорциональным намагниченности магнитооптическим параметром Q, впервые произведена оценка поправок ?? и ?? в эллипсометрические углы, обусловленных поверхностным экваториальным магнитооптическим эффектом Керра. Полученные результаты позволят с помощью традиционной эллипсометрической аппаратуры измерять магнитные характеристики, такие как петли гистерезиса, коэрцитивную силу слоистых наноструктур. The ellipsometric measurement features of the ferromagnetic samples under the influence of an external magnetic field are shown. The analytical expressions for the Fresnel coefficients are presented with regard to the magnetooptical parameter in the off-diagonal elements of the dielectric permittivity. The model of a homogeneous semi-infinite medium, one-layer model, and the multilayer model of the reflective optical systems in the presence of a magnetic field in the equatorial magneto-optical Kerr effect configuration are analyzed. These models permit to interpret the experimental data of the ellipsometric and magneto-ellipsometric studies of layered magnetic nanostructures. For the first time the relationship of the ellipsometric parameters ? and A with magneto-optical parameter Q is obtained, ?? and SA corrections in the ellipsometric angles are evaluated due to the equatorial surface magnetooptical Kerr effect. As a result, it becomes possible to measure the magnetic characteristics of the layered nanostructures, such as the hysteresis loop and coercivity with the conventional ellipsometric apparatus.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Вестник Сибирского государственного аэрокосмического университета им. академика М.Ф. Решетнева

Выпуск журнала: 3

Номера страниц: 212-217

ISSN журнала: 18169724

Место издания: Красноярск

Издатель: Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М.Ф. Решетнева

Авторы

  • Максимова О.А. (Сибирский федеральный университет)
  • Овчинников С.Г. (Сибирский федеральный университет)
  • Hartmann U. (Universitat des Saarlandes)
  • Косырев Н.Н. (Институт физики им. Л. В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук)
  • Варнаков С.Н. (Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М. Ф. Решетнева)

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.