Сибирский федеральный университет

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2020

Идентификатор DOI: 10.18287/2412-6179-CO-611

Ключевые слова: оптическая система, система Ричи-Кретьена с двухлинзовым корректором, пространственное разрешение, космический мониторинг Земли, optical system, Ritchey-Chretien system with a two-lens corrector, monitoring, resolution

Аннотация: При использовании орбит с большими высотами для дистанционного зондирования Земли требуется специальная оптическая система. В данной работе представлена оптическая система с полем зрения 4°, обеспечивающая высокое разрешение для спектрального диапазона 200 - 3300 нм. Рассчитаны и приведены параметры конструктивных элементов системы. Рассмотрены точечные диаграммы пятен рассеяния для центра поля, промежуточных зон и на краю поля, и представлены кривые аберраций. Показано, что для большей части рабочего спектрального диапазона оптическая система является дифракционно-ограниченной, что способствует получению максимально возможного пространственного разрешения. Система рассматривается как инструмент для дистанционного зондирования Земли и сбора информации в ультрафиолетовом, видимом и ближнем инфракрасном диапазонах. In this work, we propose a high-resolution optical system for Earth remote sensing, operating at 200-3300-nm wavelengths and providing a 4º field of view. Parameters of the system's structural elements are calculated and presented. Dot charts of the spots of confusion for the center, intermediate zones, and the edge of the field are considered. Over most of the operating wavelengths, the optical system is shown to be diffraction-limited, which provides attaining the highest possible spatial resolution. This system is considered as a tool for monitoring of the Earth's surface and collection of information in the ultra-violet, visible and near infrared spectral ranges (200-3300 nanometers).

Журнал: Компьютерная оптика

Выпуск журнала: Т. 44, № 2

Номера страниц: 195-202

ISSN журнала: 01342452

Место издания: Самара

Издатель: Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и Фотоника" Российской академии наук, Самарский национальный исследовательский университет им. акад. С.П. Королева

• Владимиров Валерий Михайлович (ООО «Научно-производственная фирма «Электрон»)
• Юксеев Василий Александрович (АО «Информационные спутниковые системы»)
• Лапухин Евгений Геннадьевич (Сибирский государственный университет науки и технологий им. М.Ф. Решетнева)

• Ядро РИНЦ (eLIBRARY.RU)