Сибирский федеральный университет

Перевод названия: Methods of Modern Transmission Electron Microscopy in Material Study

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2009

Ключевые слова: transmission electron microscopy, electron diffraction, X-ray spectrum analysis, просвечивающая электронная микроскопия, дифракция электронов, рентгеноспектральный анализ

Аннотация: На примере различных материалов: тонких пленок Al/Au, наночастиц Pd-Au, углеродных нанотрубок, фотонного кристалла показаны возможности современной просвечивающей электронной микроскопии в исследовании микроструктуры. Продемонстрировано применение методов высокоразрешающей и аналитической просвечивающей электронной микроскопии, а также дифракции электронов. At the example of Al/Au thin films, Pd-Au nanoparticles, carbon nanotubes, and, photonic crystal, the performance capabilities of modern transmission electron microscopy in the studies of microstructure are shown. The application of the methods of high-resolution and analytical transmission electron microscopy, and, electron diffraction is demonstrated.

Журнал: Журнал Сибирского федерального университета. Серия: Химия

Выпуск журнала: Т. 2, № 4

Номера страниц: 294-306

ISSN журнала: 19982836

Место издания: Красноярск

Издатель: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования Сибирский федеральный университет

• Жарков С.М. (Сибирский федеральный университет)

• Ядро РИНЦ (eLIBRARY.RU)
• Список ВАК