ОСОБЕННОСТИ АНАЛИЗА ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИХ ДАННЫХ ДЛЯ МАГНИТНЫХ НАНОСТРУКТУР : научное издание | Научно-инновационный портал СФУ

ОСОБЕННОСТИ АНАЛИЗА ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИХ ДАННЫХ ДЛЯ МАГНИТНЫХ НАНОСТРУКТУР : научное издание

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2014

Идентификатор DOI: 10.1134/S0022476614060225

Ключевые слова: магнитоэллипсометрия, эллипсометрические измерения, магнитооптический эффект Керра, тонкие пленки, модель полубесконечной среды, коэффициент преломления, коэффициент поглощения, магнитооптический параметр, magneto-ellipsometry, Ellipsometric measurements, Magneto-optical Kerr effect, thin films, semi-infinite medium model, refraction coefficient, absorption coefficient, magneto-optical parameter

Аннотация: Предложена методика интерпретации магнитоэллипсометрических измерений. Рассмотрена модель однородной полубесконечной среды для отражающих слоистых магнитных структур при наличии магнитного поля в конфигурации магнитооптического экваториального эффекта Керра. На основании анализа коэффициентов Френеля с учетом магнитооптического параметра Q, входящего в недиагональные члены тензора диэлектрической проницаемости, получены выражения, с помощью которых из данных эллипсометрических (? 0 и ? 0) и магнитоэллипсометрических (? 0 + ?? и ? 0 + ??) измерений можно получить значения величин коэффициентов преломления ( n), поглощения ( k), действительной ( Q 1) и мнимой ( Q 2) частей магнитооптического параметра. Полученные результаты позволят с помощью традиционной эллипсометрической аппаратуры измерять и анализировать такие магнитные характеристики, как петли гистерезиса, коэрцитивную силу слоистых наноструктур. The technique for interpreting magneto-ellipsometric measurements is proposed. The model of a homogeneous semi-infinite medium for reflecting layered magnetic structures in the presence of the magnetic field in the configuration of the magneto-optical equatorial Kerr effect is considered. Based on the analysis of the Fresnel coefficients with regard to the magneto-optical parameter Q appearing in the off-diagonal elements of the permittivity tensor, the expressions are obtained using which the refraction ( n) and absorption ( k) coefficients, the real ( Q 1) and imaginary ( Q 2) parts of the magneto-optical parameter can be found from the ellipsometric (? 0 and ? 0) and magneto-ellipsometric (? 0 + ?? and ? 0 + ??) measurements. The results will allow to measure and analyze the magnetic characteristics such as hysteresis loops and the coercitive force of layered nanostructures using the conventional ellipsometric equipment.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Журнал структурной химии

Выпуск журнала: Т. 55, 6

Номера страниц: 1190-1197

ISSN журнала: 01367463

Место издания: Новосибирск

Издатель: Федеральное государственное унитарное предприятие Издательство Сибирского отделения Российской академии наук

Авторы

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.