Влияние температурного профиля на качество пайки электронных компонентов по технологии PIP : доклад, тезисы доклада | Научно-инновационный портал СФУ

Влияние температурного профиля на качество пайки электронных компонентов по технологии PIP : доклад, тезисы доклада

Тип публикации: доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций

Конференция: Современные проблемы радиоэлектроники; Красноярск; Красноярск

Год издания: 2017

Аннотация: Эффективность паяного соединения при производстве электроники в значительной степени зависит о построения правильного температурного профиля оплавления. При построении профиля пайки с применением PIP-технологии помимо требований к SMD–компонентам необходимо учитывать влияние высоких температур на штыревые компоненты.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Современные проблемы радиоэлектроники

Номера страниц: 574-577

Издатель: Сибирский федеральный университет

Персоны

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.