Determination of structural parameters of the Fe-Si-system by spectral ellipsometry method : доклад, тезисы доклада | Научно-инновационный портал СФУ

Determination of structural parameters of the Fe-Si-system by spectral ellipsometry method : доклад, тезисы доклада

Тип публикации: доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций

Конференция: Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials, ASCONanomat 2011; Vladivostok; Vladivostok

Год издания: 2012

Идентификатор DOI: 10.1016/j.phpro.2012.01.013

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Physics Procedia

Выпуск журнала: 23

Номера страниц: 49-52

Издатель: Elsevier B.V.

Авторы

  • Lyaschenko S.A. (Siberian Aerospace University)
  • Varnakov S.N. (Siberian Aerospace University)
  • Ovchinnikov S.G. (Siberian Aerospace University)
  • Berezitskaya E.P. (Siberian Aerospace University)
  • Alexandrova G.A. (Siberian Aerospace University)
  • Vaituzin O.P. (Siberian Aerospace University)

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.