Nonparametric algorithm of electronic components test data pattern recognition

Тип публикации: доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций

Конференция: International Workshop on Advanced Technologies in Material Science, Mechanical and Automation Engineering (MIP) - Engineering; Krasnoyarsk, RUSSIA; Krasnoyarsk, RUSSIA

Год издания: 2019

Идентификатор DOI: 10.1088/1757-899X/537/4/042021

Аннотация: The paper discusses the quality diagnostics of electrical radio components based on the results of non-destructive testing. A proposed clustering algorithm does not require preliminary information on the number of classes and the training sample. The algo

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: IOP Conference Series: Materials Science and Engineering

Выпуск журнала: Vol. 537, Is. 4

Номера страниц: 42021

ISSN журнала: 17578981

Издатель: Institute of Physics Publishing

Персоны

Koplyarova N.V. (Siberian Fed Univ, Svobodny Pr 79, Krasnoyarsk 660041, Russia)
Chzhan E.A. (Siberian Fed Univ, Svobodny Pr 79, Krasnoyarsk 660041, Russia)
Medvedev A.V. (Siberian Fed Univ, Svobodny Pr 79, Krasnoyarsk 660041, Russia)
Korneeva A.A. (Siberian Fed Univ, Svobodny Pr 79, Krasnoyarsk 660041, Russia)
Raskina A.V. (Siberian Fed Univ, Svobodny Pr 79, Krasnoyarsk 660041, Russia)
Kukartsev V.V. (Siberian Fed Univ, Svobodny Pr 79, Krasnoyarsk 660041, Russia; Siberian State Univ Sci & Technol, Krasnoyarskiy Rabochiy Ave 31, Krasnoyarsk 660037, Russia)
Tynchenko V.S. (Siberian Fed Univ, Svobodny Pr 79, Krasnoyarsk 660041, Russia; Siberian State Univ Sci & Technol, Krasnoyarskiy Rabochiy Ave 31, Krasnoyarsk 660037, Russia)

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.