АНАЛИЗ ПРИВЛЕКАТЕЛЬНОСТИ АМЕРИКАНСКИХ ВУЗОВ | Научно-инновационный портал СФУ

АНАЛИЗ ПРИВЛЕКАТЕЛЬНОСТИ АМЕРИКАНСКИХ ВУЗОВ

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2011

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения

Выпуск журнала: Т. 11, № -4

Номера страниц: 106-110

Место издания: Москва

Издатель: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования Московский технологический университет (МИРЭА)

Персоны

  • ПЕРФИЛЬЕВ Ю.С. (Сибирский федеральный университет)
  • СУРЖИКОВА О.А. (Чешский технический университет, г. Прага)
  • ПЛОТНИКОВА И.В. (Национальный исследовательский Томский политехнический университет)
  • ДЖАНДОСОВ Р.К. (Московский государственный университет экономики, статистики и информатики)

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.