Semiconductor minority carrier lifetime meter using noncontact microwave method "TAUMETER - 2M" : доклад, тезисы доклада | Научно-инновационный портал СФУ

Semiconductor minority carrier lifetime meter using noncontact microwave method "TAUMETER - 2M" : доклад, тезисы доклада

Тип публикации: доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций

Год издания: 2011

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: 10th WSEAS International Conference on Instrumentation, Measurement, Circuits and Systems, IMCAS'11

Номера страниц: 95-99

Место издания: Venice

Персоны

  • Vladimirov V.M. (Krasnoyarsk Science Centre of the Siberian Branch of Russian Academy of Science)
  • Konnov V.G. (Krasnoyarsk Science Centre of the Siberian Branch of Russian Academy of Science)
  • Markov V.V. (Krasnoyarsk Science Centre of the Siberian Branch of Russian Academy of Science)
  • Repin N.S. (Krasnoyarsk Science Centre of the Siberian Branch of Russian Academy of Science)
  • Shepov V.N. (Krasnoyarsk Science Centre of the Siberian Branch of Russian Academy of Science)

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.