- О влиянии технологических погрешностей топологии на частотные характеристики фильтров на поверхностных акустических волнах : научное издание [статья из журнала]2023, Электроника и микроэлектроника СВЧприсутствует в РИНЦ (eLIBRARY.RU)
- К ОЦЕНКЕ ВЛИЯНИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПОГРЕШНОСТЕЙ НА ЧАСТОТНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ФИЛЬТРОВ НА ПОВЕРХНОСТНЫХ АКУСТИЧЕСКИХ ВОЛНАХ : доклад, тезисы доклада [доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций]2022, Современные проблемы радиоэлектроникиприсутствует в РИНЦ (eLIBRARY.RU)
- ВЫБОР ВЕСОВЫХ ФУНКЦИЙ ПРИ ПРОЕКТИРОВАНИИ ВСТРЕЧНО-ШТЫРЕВЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ УСТРОЙСТВ НА ПОВЕРХНОСТНЫХ АКУСТИЧЕСКИХ ВОЛНАХ : доклад, тезисы доклада [доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций]2022, Современные проблемы радиоэлектроникиприсутствует в РИНЦ (eLIBRARY.RU)
- Synthesis and transport properties of FET based on Heusler alloy thin films formed by rapid thermal annealing [доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций]2019, Journal of Physics: Conference Seriesприсутствует в Scopus, РИНЦ (eLIBRARY.RU), Ядро РИНЦ (eLIBRARY.RU)
- Физиология : учебник для использования в учебном процессе образовательных организаций, реализующих программы высшего образования по специальностям 31.05.01 «Лечебное дело», 31.05.02 «Педиатрия» [учебник]2019присутствует в РИНЦ (eLIBRARY.RU)
- Физиология : Учебник для студентов лечебного и педиатрического факультетов [учебник]2017присутствует в РИНЦ (eLIBRARY.RU)
- Изготовление и исследование тонкопленочных конденсаторов на основе PECVD – Si3N4 : доклад, тезисы доклада [доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций]2017, Современные проблемы радиоэлектроникиприсутствует в РИНЦ (eLIBRARY.RU)
- АНОД ЭЛЕКТРОЛИЗЕРА ДЛЯ ПОЛУЧЕНИЯ ЛЕГКИХ МЕТАЛЛОВ : авторское свидетельство [патент]1999присутствует в РИНЦ (eLIBRARY.RU)
Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Там же сотрудники СФУ могут смотреть и редактировать списки своих публикаций. Сообщите, если заметили неточности.