О технической диагностике качества диодных матриц

Перевод названия: On the Technical Diagnostics of the Quality of Diode Arrangements

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2015

Ключевые слова: электрорадиоизделия, испытания электротермотренировки, технологический регламент, Electronic component, burn-in testing, manufacturing instructions, nonparametric density estimation, diagnostics, diode arrangement, grouping, диагностика, диодная матрица, группировка

Аннотация: Рассмотрена задача диагностики качества электрорадиоизделий по результатам испытаний неразрушающего контроля. Приведен пример группировки диодных матриц по данным испытаний электротермотренировки. Установлено, что диоды одной матрицы могут быть отнесены к двум группам. Данное заключение позволило оптимизировать ведение технологического процесса изготовления диодов в рамках технологического регламента.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Заводская лаборатория. Диагностика материалов

Выпуск журнала: Т.81, 5

Номера страниц: 71-76

ISSN журнала: 10286861

Место издания: Москва

Издатель: Издательство "Тест-зл"

Авторы

  • Орлов В.И. (ОАО «Испытательный технический центр - НПО ПМ»)
  • Сергеева Н.А. (Сибирский федеральный университет)
  • Чжан Е.А. (Сибирский федеральный университет)

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.