Сибирский федеральный университет

Перевод названия: On the Technical Diagnostics of the Quality of Diode Arrangements

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2015

Ключевые слова: электрорадиоизделия, испытания электротермотренировки, технологический регламент, Electronic component, burn-in testing, manufacturing instructions, nonparametric density estimation, diagnostics, diode arrangement, grouping, диагностика, диодная матрица, группировка

Аннотация: Рассмотрена задача диагностики качества электрорадиоизделий по результатам испытаний неразрушающего контроля. Приведен пример группировки диодных матриц по данным испытаний электротермотренировки. Установлено, что диоды одной матрицы могут быть отнесены к двум группам. Данное заключение позволило оптимизировать ведение технологического процесса изготовления диодов в рамках технологического регламента. A problem of quality control of electronic components by the results of non-destruction testing is considered. An example of grouping diode arrangements proceeding from the results of burn-in testing is presented. We have shown that diodes of the same matrix have different properties and can be devided into two groups and propose to optimize the process of the diode manufacture within the framework of process specifications.

Журнал: Заводская лаборатория. Диагностика материалов

Выпуск журнала: Т. 81, № 5

Номера страниц: 71-76

ISSN журнала: 10286861

Место издания: Москва

Издатель: Издательство "Тест-зл"

• Орлов В.И. (ОАО «Испытательный технический центр - НПО ПМ»)
• Сергеева Н.А. (Сибирский федеральный университет)
• Чжан Е.А. (Сибирский федеральный университет)

• Ядро РИНЦ (eLIBRARY.RU)
• Список ВАК