Перевод названия: BAND STRUCTURE INVESTIGATION OF THIN In2O3 FILMS BY X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY AND AB INITIO CALCULATIONS IN VASP
Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2016
Ключевые слова: оксид индия, тонкие пленки, реактивное магнетронное напыление, Indium oxide, thin films, reactive magnetron sputtering
Аннотация: Представлено исследование зонной структуры пленок оксида индия с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и первопринципных расчетов в рамках пакета VASP. Исследования проведены для диэлектрических и проводящих пленок оксида индия, полученных с помощью реактивного магнетронного напыления. This paper presents a study of the band structure of thin indium oxide films using X-ray photoelectron spectroscopy and ab initio calculations within the VASP package. Studies carried out for the dielectric and conductive films of indium oxide obtained by reactive magnetron sputtering.
Издание
Журнал: Актуальные проблемы авиации и космонавтики
Выпуск журнала: Т. 1, № 12
Номера страниц: 335-336
Место издания: Красноярск
Издатель: Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М.Ф. Решетнева
Персоны
- Тамбасов И.А. (Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН)
- Жандун В.С. (Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН)
- Михлин Ю.Л. (Институт химии и химической технологии СО РАН)
- Мягков В.Г. (Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН)
- Тамбасова Е.В. (Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М. Ф. Решетнева)
Вхождение в базы данных
Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.