ИССЛЕДОВАНИЕ ЗОННОЙ СТРУКТУРЫ ТОНКИХ In2O3 ПЛЕНОК С ПОМОЩЬЮ РЕНТГЕНОВСКОЙ ФОТОЭЛЕКТРОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ И ПЕРВОПРИНЦИПНЫХ РАСЧЕТОВ В РАМКАХ ПАКЕТА VASP

Перевод названия: BAND STRUCTURE INVESTIGATION OF THIN In2O3 FILMS BY X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY AND AB INITIO CALCULATIONS IN VASP

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2016

Ключевые слова: оксид индия, тонкие пленки, реактивное магнетронное напыление, Indium oxide, thin films, reactive magnetron sputtering

Аннотация: Представлено исследование зонной структуры пленок оксида индия с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и первопринципных расчетов в рамках пакета VASP. Исследования проведены для диэлектрических и проводящих пленок оксида индия, полученных с помощью реактивного магнетронного напыления.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Актуальные проблемы авиации и космонавтики

Выпуск журнала: Т.1, 12

Номера страниц: 335-336

Место издания: Красноярск

Издатель: Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М.Ф. Решетнева

Авторы

  • Тамбасов И.А. (Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН)
  • Жандун В.С. (Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН)
  • Михлин Ю.Л. (Институт химии и химической технологии СО РАН)
  • Мягков В.Г. (Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН)
  • Тамбасова Е.В. (Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М. Ф. Решетнева)

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.