Применение сканирующей электронной микроскопиив решении актуальных проблем материаловедения

Перевод названия: Application of Scanning Electron Microscopy in Material Science

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2009

Ключевые слова: scanning electron microscopy, microstructure, x-ray microanalysis, сканирующая электронная микроскопия, микроструктура, микрорентгеноспектральный анализ

Аннотация: Рассмотрены вопросы практического применения сканирующей электронной микроскопии и микрорентгеноспектрального анализа для исследования материалов. Показаны возможности сканирующего электронного микроскопа JSM 7001F фирмы JEOL (Япония) с системой микроанализаторов фирмы Oxford Instruments (Великобритания) на примере диффузионных соединений разнородных материалов, серебряных электроконтактов и сплава на основе алюминия.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Журнал Сибирского федерального университета. Серия: Химия

Выпуск журнала: Т.2, 4

Номера страниц: 287-293

ISSN журнала: 19982836

Место издания: Красноярск

Издатель: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования Сибирский федеральный университет

Авторы

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.