Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2017
Идентификатор DOI: 10.7868/S0367676517030383
Аннотация: Рассмотрено влияние толщины ферромагнитной тонкой пленки и ее концентрационного состава на величину константы поверхностной анизотропии KS. В качестве метода регистрации и измерения величины KS выбран метод спин-волнового резонанса. Тонкие Fe–Ni-пленки изготовляли методом химического осаждения. Установлены зависимости KS от концентрации Ni в сплаве и толщины пленки.
Издание
Журнал: Известия Российской академии наук. Серия физическая
Выпуск журнала: Т. 81, № 3
Номера страниц: 337-339
ISSN журнала: 03676765
Место издания: Москва
Издатель: Федеральное государственное унитарное предприятие Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Наука
Персоны
- Важенина И.Г. (Сибирский федеральный университет)
- Чеканова Л.А. (Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук)
- Исхаков Р.С. (Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук)
Вхождение в базы данных
- Ядро РИНЦ (eLIBRARY.RU)
- Список ВАК
Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.