Automatic equipment for testing of complex multiparametric intelligent devices

Тип публикации: доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций

Конференция: INTERNATIONAL SIBERIAN CONFERENCE ON CONTROL AND COMMUNICATIONS; Astana, KAZAKHSTAN; Astana, KAZAKHSTAN

Год издания: 2017

Ключевые слова: Automated test equipment, intelligent devices, testing of complex multiparametric devices, ATE, HTE

Аннотация: This paper describes the structure and principles of automatic equipment for testing of complex multiparametric intelligent devices.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: 2017 INTERNATIONAL SIBERIAN CONFERENCE ON CONTROL AND COMMUNICATIONS (SIBCON) PROCEEDINGS

ISSN журнала: 23806508

Место издания: NEW YORK

Издатель: IEEE

Авторы

  • Gorchakovsky A. (Siberian Fed Univ, Inst Engn Phys & Radio Elect, Krasnoyarsk, Russia)
  • Evstratko V. (Siberian Fed Univ, Inst Engn Phys & Radio Elect, Krasnoyarsk, Russia)
  • Kamyshnikov A. (Siberian Fed Univ, Inst Engn Phys & Radio Elect, Krasnoyarsk, Russia)
  • Kamyshnikova A. (Siberian Fed Univ, Inst Engn Phys & Radio Elect, Krasnoyarsk, Russia)
  • Mishurov A. (Siberian Fed Univ, Inst Engn Phys & Radio Elect, Krasnoyarsk, Russia)
  • Panko S. (Siberian Fed Univ, Mil Engn Inst, Krasnoyarsk, Russia)
  • Sukhotin V. (Siberian Fed Univ, Mil Engn Inst, Krasnoyarsk, Russia)

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.