О непараметрических моделях в задаче диагностики электрорадиоизделий

Перевод названия: On Non-Parametric Models in the Problem of Performance Diagnostics of Electronic Components

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2014

Ключевые слова: электрорадиоизделие, electronic components, quality assessment, Nonparametric estimation, pattern recognition, diagnostics, grouping, model, a priori information, оценка качества, непараметрическая оценка, распознавание образов, диагностика, группировка, модель, априорная информация

Аннотация: Рассмотрена задача моделирования и диагностики (оценка качества) электрорадиоизделий (ЭРИ). Главная цель - отбор надежных электрорадиоизделий космической аппаратуры по данным различных технических параметров, определяющих качество ЭРИ. В частности, приведены результаты диагностики некоторых видов транзисторов. Задача диагностики электрорадиоизделий ставится как распознавание образов без указания учителя. Приведен новый алгоритм классификации данных в многомерном пространстве признаков. Предложено группировать объекты на основе анализа расстояний между ними, т.е. разработанный алгоритм не требует знания количества классов в отличие от большинства известных алгоритмов таксономии. Представлены некоторые результаты численных расчетов, показывающие эффективность предложенных алгоритмов для классификации реальных данных, а также результаты диагностики ЭРИ по реальным данным, полученным при измерении параметров транзисторов на ОАО «ИТЦ НПО ПМ». Рассмотрены данные тестов проверки качества транзисторов 2Т866А аА0.339.431 ТУ. Предварительный анализ результатов обработки данных, характеризующих состояние ЭРИ, показал, что плотности вероятности различных параметров качества существенно отличаются от нормального распределения и имеют многомодальный характер, поэтому возникает необходимость в задаче группировки данных, что приводит к появлению кластеров в пространстве параметров, характеризующих качество изделия. Установлено, что в классе годных изделий в результате диагностических испытаний транзисторов выделяются две или более группы, которые условно можно назвать «хорошими» и «очень хорошими». Исходя из этого появляется возможность изготавливать ЭРИ того или иного заданного качества. Предложенные алгоритмы могут быть положены в основу при проектировании компьютерных систем диагностики ЭРИ по результатам неразрушающего контроля, а также при разработке компьютерных систем управления технологическим процессом изготовления ЭРИ.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Заводская лаборатория. Диагностика материалов

Выпуск журнала: Т. 80, 7

Номера страниц: 73-77

ISSN журнала: 10286861

Место издания: Москва

Издатель: Издательство "Тест-зл"

Авторы

  • КОПЛЯРОВА Н.В. (Сибирский государственный аэрокосмический университет им. акад. М. Ф. Решетнева)
  • ОРЛОВ В.И. (ОАО «Испытательно-технический центр - НПО ПМ»)
  • СЕРГЕЕВА Н.А. (Сибирский государственный аэрокосмический университет им. акад. М. Ф. Решетнева)
  • ФЕДОСОВ В.В. (ОАО «Испытательно-технический центр - НПО ПМ»)

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.