Тип публикации: статья из журнала (материалы конференций, опубликованные в журналах)
Год издания: 2011
Идентификатор DOI: 10.4028/www.scientific.net/SSP.168-169.273
Ключевые слова: Electron magnetic resonance, Interlayer coupling, Magnetization, Magnetoresistance, Semiconductor spacer, Trilayer films, Electric resistance, Magnetic field effects, Magnetoelectronics, Magnetic resonance, Magnetism, Exchange constants, SQUID magnetometry, Temperature dependent, Trilayer film, Trilayers, Cobalt
Аннотация: The interlayer coupling in Co/Ge/Co trilayer films has been experimentally studied by the SQUID magnetometry and electron magnetic resonance. It has been found that the interlayer coupling is temperature-dependent. The values of the exchange constants have been determined.
Издание
Журнал: Solid State Phenomena
Выпуск журнала: Vol. 168-169
Номера страниц: 273-276
Персоны
- Kobyakov A.V. (Siberian Federal University)
- Patrin G.S. (Siberian Federal University)
- Turpanov I.A. (Kirensky Institute of Physics,Russian Academy of Sciences,Siberian Branch)
- Li L.A. (Kirensky Institute of Physics,Russian Academy of Sciences,Siberian Branch)
- Patrin K.G. (Siberian Federal University)
- Yushkov V.I. (Siberian Federal University)
- Petrakovskaya E.A. (Kirensky Institute of Physics,Russian Academy of Sciences,Siberian Branch)
- Rautskii M.V. (Kirensky Institute of Physics,Russian Academy of Sciences,Siberian Branch)
Вхождение в базы данных
Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.