Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2021
Идентификатор DOI: 10.31857/S123456782115009X
Аннотация: Из экспериментальных работ известно, что компоненты тензора диэлектрической проницаемости ε зависят от толщин слоев многослойных тонких пленок, а при нанометровых слоях необходимо дополнительно учитывать межслоевые интерфейсы. Данная работа посвящена ответу на вопрос, с чем связано влияние данных интерфейсов на свойства пленок. Показано, что вклад межзонных матричных элементов для ферромагнитных пленок, имеющих недиагональные компоненты тензора диэлектрической проницаемости, определяет соотношение между диагональной и недиагональной компонентами тензора ε при толщинах ферромагнитного слоя порядка 10 нм.
Издание
Журнал: Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики
Выпуск журнала: Т. 114, № 3-4
Номера страниц: 192-195
ISSN журнала: 0370274X
Место издания: Москва
Издатель: Институт физических проблем им. П.Л. Капицы РАН, Российская академия наук
Персоны
- Овчинников С.Г. (Сибирский федеральный университет)
- Максимова О.А. (Сибирский федеральный университет)
- Лященко С.А. (Федеральный исследовательский центр “Красноярский научный центр Сибирского отделения РАН”)
- Яковлев И.А. (Федеральный исследовательский центр “Красноярский научный центр Сибирского отделения РАН”)
- Варнаков С.Н. (Федеральный исследовательский центр “Красноярский научный центр Сибирского отделения РАН”)
Вхождение в базы данных
- Ядро РИНЦ (eLIBRARY.RU)
- Список ВАК
Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.