Применение автофотоэлектронных полупроводниковых микроструктур для анализа газовых смесей | Научно-инновационный портал СФУ

Применение автофотоэлектронных полупроводниковых микроструктур для анализа газовых смесей

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2006

Аннотация: Предлагается метод анализа газовых смесей на основе автофотоэлектронных полупроводниковых микроструктур, чувствительных в ИК-диапазоне в присутствии различных компонент газовой смеси: обсуждается применение полупроводниковых микроструктур для определения состава газовых смесей; рассмотрены особенности автоэлектронной эмиссии из полупроводников под действием ИК-излучения.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС)

Выпуск журнала: 1

Номера страниц: 449-450

ISSN журнала: 20787707

Место издания: Москва

Издатель: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук

Персоны

  • Егоров Н.М. (Красноярский государственный технический университет)
  • Левицкий А.А. (Красноярский государственный технический университет)

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.