Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2006
Аннотация: Предлагается метод анализа газовых смесей на основе автофотоэлектронных полупроводниковых микроструктур, чувствительных в ИК-диапазоне в присутствии различных компонент газовой смеси: обсуждается применение полупроводниковых микроструктур для определения состава газовых смесей; рассмотрены особенности автоэлектронной эмиссии из полупроводников под действием ИК-излучения.
Издание
Журнал: Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС)
Выпуск журнала: № 1
Номера страниц: 449-450
ISSN журнала: 20787707
Место издания: Москва
Издатель: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук
Персоны
- Егоров Н.М. (Красноярский государственный технический университет)
- Левицкий А.А. (Красноярский государственный технический университет)
Вхождение в базы данных
- РИНЦ (eLIBRARY.RU)
- Список ВАК
Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.