Nonparametric algorithm of electronic components test data pattern recognition

Тип публикации: доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций

Конференция: International Scientific Workshop «MIP Engineering 2019: Advanced Technologies in Material Science, Mechanical and Automation Engineering»; Krasnoyarsk; Krasnoyarsk

Год издания: 2019

Аннотация: The paper discusses the quality diagnostics of electrical radio components based on the results of non-destructive testing. A proposed clustering algorithm does not require preliminary information on the number of classes and the training sample. The algorithm allows to automatically determine the number of classes. The division into classes is due to the different characteristics of the measured variables, which correspond to different product quality ranges.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: IOP Conference Series: Materials Science and Engineering

Выпуск журнала: 537

Номера страниц: 42021

Издатель: Institute of Physics and IOP Publishing Limited

Авторы

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.