Программа для анализа нелокальных данных с пленочных терморезисторов электронных плат : регистрация программы для ЭВМ | Научно-инновационный портал СФУ

Программа для анализа нелокальных данных с пленочных терморезисторов электронных плат : регистрация программы для ЭВМ

Тип публикации: патент

Год издания: 2018

Аннотация: Программа реализует численный метод анализа нелокальных данных с пленочных терморезисторов электронных плат, при этом рассматривается печатная плата с электронными элементами как геометрическая структура из прямоугольных ячеек с нанесенными на нее тонкими протяженными пленками, локальное сопротивление которых строго монотонно зависит от локальной температуры ячейки. В результате работы программы с высокой точностью определяются координаты ячеек перегрева электронной платы и значение температуры перегрева.

Ссылки на полный текст

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.