Сибирский федеральный университет

Перевод названия: METHOD OF REMOTE MEASUREMENT OF SURFACE ROUGHNESS PARAMETERS

Тип публикации: патент

Год издания: 2014

Аннотация: p num="36"Способ бесконтактного измерения параметров шероховатости поверхности объектов относится к информационно-измерительной технике. При измерении шероховатости направляют на измеряемую поверхность пучок зондирующего излучения, формируют область освещенной излучением поверхности, измеряют характеристики отраженного излучения, изменяют размер освещающего пятна х на измеряемой поверхности в диапазоне от 0 до L, определяют функцию распределения среднеквадратического отклонения высоты шероховатости зависимости Rq(x) и ее производную Rq'x(x), при этом среднеарифметическое значение высоты шероховатости определяется по формуле: maths num="14"math display="block"mrowmiR/mimia/mimo=/momfracmn1/mnmiL/mi/mfracmstyle displaystyle="true"mrowmunderovermo∫/momn0/mnmiL/mi/munderovermrowmsqrtmrowmiR/mimsupmiq/mimn2/mn/msupmo stretchy="false"(/momix/mimo stretchy="false")/momo+/momn2/mnmiR/mimiq/mimo stretchy="false"(/momix/mimo stretchy="false")/momiR/mimsubsupmiq/mimix/mimo'/mo/msubsupmo stretchy="false"(/momix/mimo stretchy="false")/momix/mimid/mimix/mi/mrow/msqrt/mrow/mrow/mstylemtext, /mtextmrowmo(/momtext1/mtextmo)/mo/mrow/mrow/mathimg file="00000014.TIF" he="14" wi="117" img-format="tif" img-content="undefined" //maths/p p num="37"причем поверхность освещают поочередно на двух длинах волн, регистрируют в направлении зеркального отражения оптические изображения освещаемых областей поверхности объекта, а среднеквадратическое значение высоты неровностей Rq определяют по формуле: /p p num="38" maths num="15" math display="block" mrow miR/mi miq/mi mo=/mo mfrac mrow msub miλ/mi mn1/mn /msub msub miλ/mi mn2/mn /msub /mrow mrow miπ/mi micos/mi miψ/mi /mrow /mfrac mo⋅/mo msqrt mrow mfrac mrow mo−/mo miln/mi msub mik/mi mrow mn12/mn /mrow /msub mo+/mo miln/mi mia/mi /mrow mrow msubsup miλ/mi mn1/mn mn2/mn /msubsup mo−/mo msubsup miλ/mi mn2/mn mn2/mn /msubsup /mrow /mfrac /mrow /msqrt mtext, /mtext mrow mo(/mo mtext2/mtext mo)/mo /mrow /mrow /math img file="00000015.TIF" he="14" wi="97" img-format="tif" img-content="undefined" / /maths /p p num="39"k12 - отношение видеосигналов для всех элементов; i и j изображений; uij - величины видеосигналов изображений, полученных на длинах волн λ1 и λ2; ψ - угол освещения пластины; N - число элементов в строке изображения поля зеркально отраженного излучения поверхности объекта; K - число строк в изображении поля зеркально отраженного излучения поверхности объекта. Технический результат - измерение шероховатости поверхности при освещении ее излучением на двух длинах волн. 1 ил.img file="00000016.TIF" he="77" wi="143" img-format="tif" img-content="drawing" //p p num="40"FIELD: measuring instrumentation./p p num="41"SUBSTANCE: method of remote measurement of surface roughness parameters relates to data and measurement instrumentation. For roughness measurement, probing emission beam is directed onto the surface in study, an area lit by emission is formed, parameters of reflected light are measured, lit spot size x at the surface in study is changed within 0 to L, distribution function for root-mean-square deviation of roughness height by dependence Rq(x) and its derivative Rq'x(x), and root-mean-square value of roughness height is determined by the formula: maths num="16"math display="block"mrowmiR/mimia/mimo=/momfracmn1/mnmiL/mi/mfracmstyle displaystyle="true"mrowmunderovermo∫/momn0/mnmiL/mi/munderovermrowmsqrtmrowmiR/mimsupmiq/mimn2/mn/msupmo stretchy="false"(/momix/mimo stretchy="false")/momo+/momn2/mnmiR/mimiq/mimo stretchy="false"(/momix/mimo stretchy="false")/momiR/mimsubsupmiq/mimix/mimo'/mo/msubsupmo stretchy="false"(/momix/mimo stretchy="false")/momix/mimid/mimix/mi/mrow/msqrt/mrow/mrow/mstylemtext, /mtextmrowmo(/momtext1/mtextmo)/mo/mrow/mrow/mathimg file="00000017.TIF" he="14" wi="115" img-format="tif" img-content="undefined" //maths (1), while the surface is lit in turns at two wavelengths, optical images of lit areas of the object surface are registered in direction of mirrored reflection, and root-mean-square value of roughness height Rq is determined by the formula: maths num="17"math display="block"mrowmiR/mimiq/mimo=/momfracmrowmsubmiλ/mimn1/mn/msubmsubmiλ/mimn2/mn/msub/mrowmrowmiπ/mimicos/mimiψ/mi/mrow/mfracmo⋅/momsqrtmrowmfracmrowmo−/momiln/mimsubmik/mimrowmn12/mn/mrow/msubmo+/momiln/mimia/mi/mrowmrowmsubsupmiλ/mimn1/mnmn2/mn/msubsupmo−/momsubsupmiλ/mimn2/mnmn2/mn/msubsup/mrow/mfrac/mrow/msqrtmtext, /mtextmrowmo(/momtext2/mtextmo)/mo/mrow/mrow/mathimg file="00000018.TIF" he="14" wi="96" img-format="tif" img-content="undefined" //maths (2), where k12 is video signal ratio for all elements; i and j images; uij are values of video signals of images obtained at wavelengths λ1 and λ2; ψ is a plate lighting angle; N is a number of elements in field image line for light reflected from the object surface; K is the number of lines in field image of light reflected from the object surface./p p num="42"EFFECT: surface roughness measurement by surface lighting at two wavelengths./p p num="43"1 dwg/p

• Овчинников Сергей Сергеевич
• Тымкул Василий Михайлович
• Кузнецов Максим Михайлович
• Носков Михаил Федорович
• Чесноков Дмитрий Владимировия

• РИНЦ (eLIBRARY.RU)