Ellipsometric technique for determining in situ the absorption coefficient of semiconducting nanolayers : научное издание

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2014

Идентификатор DOI: 10.1134/S1063784214050144

Журнал: Technical Physics. The Russian Journal of Applied Physics

Выпуск журнала: Т. 59, № 5

Номера страниц: 736-739

ISSN журнала: 10637842

Место издания: Санкт-Петербург

Издатель: Pleiades Publishing, Ltd. (Плеадес Паблишинг, Лтд)

Kosyrev N.N. (Kirensky Institute of Physics, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences)
Varnakov S.N. (Reshetnikov Siberian State Aerospace University)
Ovchinnikov S.G. (Kirensky Institute of Physics, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences)
Yakovlev I.A. (Kirensky Institute of Physics, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences)
Shvets V.A. (Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences)
Mikhailov N.N. (Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences)
Rykhlitskii S.V. (Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences)

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.