Ellipsometric technique for determining in situ the absorption coefficient of semiconducting nanolayers

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2014

Идентификатор DOI: 10.1134/S1063784214050144

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Technical Physics. The Russian Journal of Applied Physics

Выпуск журнала: Т.59, 5

Номера страниц: 736-739

ISSN журнала: 10637842

Место издания: Санкт-Петербург

Издатель: Pleiades Publishing, Ltd. (Плеадес Паблишинг, Лтд)

Авторы

  • Kosyrev N.N. (Kirensky Institute of Physics, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences)
  • Varnakov S.N. (Reshetnikov Siberian State Aerospace University)
  • Ovchinnikov S.G. (Kirensky Institute of Physics, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences)
  • Yakovlev I.A. (Kirensky Institute of Physics, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences)
  • Shvets V.A. (Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences)
  • Mikhailov N.N. (Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences)
  • Rykhlitskii S.V. (Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences)

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.