Зависимость критического радиуса частичных дислокационных петель от энергии дефекта упаковки в полупроводниках

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2014

Аннотация: Методом просвечивающей электронной микроскопии исследовано распределение дислокационных петель по размерам в полупроводниках CdTe, ZnTe, ZnSe, ZnS, CdS, GaAs, Si и Ge. Экспериментальные результаты сравниваются с теоретическими расчетами критических радиусов перехода частичных дислокационных петель в полные с учетом энергии образования дислокационных петель и энергии дефекта упаковки материалов. Показано, что критический радиус зависит от энергии дефекта упаковки и является важной характеристикой при анализе процессов дефектообразования в полупроводниках.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Физика твердого тела

Выпуск журнала: Т. 56, 4

Номера страниц: 692-694

ISSN журнала: 03673294

Место издания: Санкт-Петербург

Издатель: Федеральное государственное унитарное предприятие "Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука"

Авторы

  • Логинов Ю.Ю. (Сибирский государственный аэрокосмический университет им. акад. М.Ф. Решетнева, Красноярск, Россия)
  • Мозжерин А.В. (Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия)
  • Брильков А.В. (Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия)

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.