Characterization of Si/Fe multilayers by electron spectroscopy and small-angle X-ray scattering

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2006

Идентификатор DOI: 10.1134/S0031918X06130230

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: The Physics of Metals and Metallography

Выпуск журнала: Т. 101, 1 SUPPL.

ISSN журнала: 0031918X

Место издания: Екатеринбург

Издатель: Pleiades Publishing, Ltd. (Плеадес Паблишинг, Лтд)

Авторы

  • Parshin A.S. (Kirensky Institute of Physics,Siberian Division,Russian Academy of Sciences)
  • Varnakov S.N. (Kirensky Institute of Physics,Siberian Division,Russian Academy of Sciences)
  • Lepeshev A.A. (Reshetnev Siberian State Aerospace University)
  • Ovchinnikov S.G. (Kirensky Institute of Physics,Siberian Division,Russian Academy of Sciences)
  • Rafaja D. (Institute of Physical Metallurgy,TU Bergakademie Freiberg)
  • Kalvoda L. (Czech Technical University)

Вхождение в базы данных

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.

Вы можете отметить интересные фрагменты текста, которые будут доступны по уникальной ссылке в адресной строке браузера.