Численный метод анализа нелокальных данных с пленочных терморезисторов электронных плат : научное издание

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2017

Идентификатор DOI: 10.17377/semi.2017.14.077

Ключевые слова: film thermoresistors, physical-mathematical model, under-defined systems of equations, numerical algorithms.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Сибирские электронные математические известия

Выпуск журнала: Т. 14

Номера страниц: 914-926

ISSN журнала: 18133304

Место издания: Новосибирск

Издатель: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт математики им. С.Л. Соболева Сибирского отделения Российской академии наук

Персоны

Шайдуров Владимир Викторович (Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук)
Корнеева А.А. (Сибирский федеральный университет)

Вхождение в базы данных

Ядро РИНЦ (eLIBRARY.RU)
Список ВАК

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.