Electron transport in a slot-gate Si MOSFET : научное издание

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2008

Идентификатор DOI: 10.1209/0295-5075/82/47001

Журнал: EPL

Выпуск журнала: Т. 82, № 4

Номера страниц: 47001

ISSN журнала: 02955075

Издатель: Institute of Physics and IOP Publishing Limited

Shlimak I. (Jack and Pearl Resnick Institute of Advanced Technology,Department of Physics,Bar-Ilan University)
Ginodman V. (Jack and Pearl Resnick Institute of Advanced Technology,Department of Physics,Bar-Ilan University)
Butenko A. (Jack and Pearl Resnick Institute of Advanced Technology,Department of Physics,Bar-Ilan University)
Friedland K.J. (Paul-Drude Institut für Festkörperelektronik)
Kravchenko S.V. (Physics Department,Northeastern University)

Информация о публикациях загружается с сайта службы поддержки публикационной активности СФУ. Сообщите, если заметили неточности.